容量 | 2 |
準(zhǔn)度 | 0.2 |
輸入 | 220 |
溫度 | 23 |
測量范圍 | 0-100 |
產(chǎn)地 | 青島 |
工作環(huán)境溫度 | 23 |
功率 | 100 |
規(guī)格 | 1 |
精度等級 | 0.5級 |
類型 | 1 |
顯示方式 | 數(shù)顯式 |
分類 | 1 |
品牌 | 正廠 |
型號 | HNDL |
加工定制 | 是 |
質(zhì)量認(rèn)證 | ISO9001 |
HN11C斷路器分析儀12端口 開關(guān)觸頭壓力測試儀漏電保護(hù)器測試儀使用說明傳統(tǒng)上,示波器的頻率響應(yīng)是高斯型的,從它的BNC輸入端至CRT顯示,有很多模擬放大器構(gòu)成一個(gè)放大器鏈。但當(dāng)代高性能數(shù)字示波器普遍采用平坦頻率響應(yīng)。數(shù)字示波器中和高斯頻響有關(guān)的只是很少的幾個(gè)模擬放大器,并可用DSP技術(shù)優(yōu)化其對度的影響。對于數(shù)字示波器來說,要盡量避免采樣混疊誤差,而模擬示波器不存在這種問題。與高斯頻響相比,平坦型頻率響應(yīng)能減少采樣混疊誤差。本文回顧高斯響應(yīng)和平坦響應(yīng)的特性,然后討論這兩種響應(yīng)類型所對應(yīng)的上升時(shí)間測量度,從而說明具有平坦頻率響應(yīng)的示波器與具有同樣帶寬的高斯響應(yīng)示波器相比,有更高的上升時(shí)間測量度。
HN11A高壓開關(guān)動(dòng)特性測試儀
產(chǎn)品用途
時(shí) 間:12個(gè)斷口的固有分、合閘時(shí)間,同相同期、相間同期。
重 合 閘:每斷口的合-分,分-合,分-合-分過程時(shí)間:一分時(shí)間、一合時(shí)間、二合時(shí)間、金短時(shí)間、無電流時(shí)間值。
彈 跳:每斷口的合閘彈跳時(shí)間,彈跳次數(shù),彈跳過程,彈跳波形;每斷口的分閘幅值。
速 度:剛分、剛合速度,更大速度,時(shí)間-行程特性曲線。
行 程:總行程,開距,超行程,過沖行程,幅值。
電 流:分、合閘線圈的分、合閘電流值、電流波形圖。
動(dòng)作電壓:機(jī)內(nèi)提供DC30~250V/20A數(shù)字可調(diào)斷路器動(dòng)作電源,自動(dòng)完成斷路器的低電壓動(dòng)作試驗(yàn),測量斷路器的動(dòng)作電壓值。玖錦科技提供的SGA1系列將信號源與分析儀合二為一,性價(jià)比極高,適合大規(guī)模實(shí)驗(yàn)室建設(shè)需求。同時(shí)可靈活選配模擬信號產(chǎn)生、矢量信號產(chǎn)生、模擬調(diào)制、矢量調(diào)制功能,且支持現(xiàn)場軟件升級。我們也提供實(shí)驗(yàn)箱,形成全套解決方案。集信號源與分析儀于一體,滿足實(shí)驗(yàn)室建設(shè)基本需求的同時(shí)的節(jié)省成本配合針對雷達(dá)、通信、射頻微波等課程實(shí)驗(yàn)箱,形成完備的解決方案,節(jié)約教師備課的時(shí)間和力所有功能均可以現(xiàn)場升級,以極低的成本擴(kuò)展實(shí)驗(yàn)設(shè)備的功能源與分析靈活搭配超薄設(shè)計(jì),的節(jié)約測試臺面占用面積三年維保,解除維修的后顧之憂2.外場安裝維護(hù)因傳統(tǒng)的信號源體積笨重,給外場測試帶來很多不便。
技術(shù)參數(shù)
1.基本參數(shù)
時(shí) 間: 量程 4000.0ms 分辯率0.1ms
誤差 ①100ms以內(nèi) 0.1ms±1個(gè)字
②100ms以上 0.1%±1個(gè)字
③同期
速? 度: 量程?20.00m/s 分辯率0.01m/s
誤差?①0-2m/s以內(nèi) ±0.1m/s±1個(gè)字
②100ms以上 ±0.2m/s±1個(gè)字
量 程 分辯率 誤 差
真空斷路器 50.0mm 0.1mm
1%±1個(gè)字
SF6斷路器 300.0mm 1mm
少油斷路器 600.0mm
燈具分布光度計(jì)是一種大型的密光學(xué)測試設(shè)備,是燈具分布光度測量中必備的重要設(shè)備。傳統(tǒng)的分布光度計(jì)主要為機(jī)械式結(jié)構(gòu),通過機(jī)械控制旋轉(zhuǎn)測量整個(gè)三維空問的燈具光分布。目前在發(fā)展中的這類傳統(tǒng)分布光度計(jì)主要有旋轉(zhuǎn)反光鏡式分布光度計(jì)。運(yùn)動(dòng)反光鏡式分布光度計(jì)和旋轉(zhuǎn)燈具式分布光度計(jì)等幾種結(jié)構(gòu)形式℃IEl27一1997對LED的光學(xué)和電學(xué)測試進(jìn)行了要求,也是采用傳統(tǒng)光度測量方法進(jìn)行LED測試的依據(jù)。近年來,隨著CCD成像技術(shù)的發(fā)展與成熟,同時(shí)由于其可視化效果好,簡易方便,人們開始逐漸尋求采用成像技術(shù)來進(jìn)行光度測量,目前已有可用于基于成像技術(shù)的亮度計(jì),輔助傳統(tǒng)類型的亮度計(jì)。
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