簡述

三極管常用于放大電路中，由于其結(jié)構(gòu)的特殊性，它的參數(shù)眾多，我們在設(shè)計(jì)電路中常常會(huì)關(guān)注的參數(shù)有電流放大系數(shù)β、極間反向電流I_CBO、I_CEO、集電極最大允許電流I_CM、反向擊穿電壓V_EBO、V_CBO、V_CEO以及三極管的輸入輸出特性曲線等參數(shù)。下面我們利用源表對以上參數(shù)做一個(gè)測試。

參數(shù)測試

在測試每個(gè)元器件之前，我們一定要首先熟悉元器件的產(chǎn)品規(guī)格書，對元器件的參數(shù)有一定的理解，不然我們再測試中很容易出現(xiàn)設(shè)值過大造成元器件的損壞。這里測試所用元器件為BCX54型號(hào)三極管，常見規(guī)格參數(shù)如圖1所示，

圖1 BCX54規(guī)格參數(shù)

輸入輸出特性曲線

三極管在放大電路中有三種連接方式，共基極、共發(fā)射極、共集電極，即分別把基極、發(fā)射極、集電極作為輸入輸出端口的共同端。三種連接方式都必須保證發(fā)射結(jié)正偏、集電結(jié)反偏才能使三極管有放大作用。為了方便測試，我們統(tǒng)一使用共發(fā)射極測試。連接方式如圖2所示

圖2 共發(fā)射極連接方式

共發(fā)射極的連接方式下我們的輸入端為be端，輸出端為ce端，我們測試的輸入特性曲線就為一定V_CE下V_BE與i_BE的關(guān)系；輸出特性曲線為一定i_BE下V_BE與i_CE的關(guān)系。

輸入特性曲線

硬件連接

按照圖3的連接方式將三極管與源表連接

圖3 輸入特性曲線硬件連接圖

三極管測試時(shí)一臺(tái)加在基極與發(fā)射極之間，一臺(tái)加在集電極與發(fā)射極之間；MOS管測試時(shí)一臺(tái)加在柵極與源極之間，一臺(tái)加在漏極與源極之間；需要使用兩臺(tái)直流源表同步觸發(fā)使用，或使用插卡式直流源表；  

三極管的基極及MOS管的柵極一般耐壓值較低于30V，基于最高性價(jià)比考慮，其中一臺(tái)使用S100即可，另一臺(tái)根據(jù)三極管的集電極或MOS管的漏極耐壓而定，普賽斯儀表推出的功率器件靜態(tài)測試儀可精準(zhǔn)測量MOSFET、BJT、IGBT等的靜態(tài)參數(shù)，電壓可高達(dá)3KV,電流可高達(dá)4KA。該系統(tǒng)可測量不同封裝類型的功率器件的靜態(tài)參數(shù)，具有高電壓和大電流特性，uΩ級電阻，pA級電流精準(zhǔn)測量等特點(diǎn)。支持高壓模式下測量功率器件結(jié)電容，如輸入電容，輸出電容、反向傳輸電容等。功率器件靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)采用模塊化設(shè)計(jì)，方便用戶添加或升級測量模塊，適應(yīng)測量功率器件不斷變化的需求。有關(guān)三極管電性能分析數(shù)字源表S系列國產(chǎn)的更多信息認(rèn)準(zhǔn)生產(chǎn)廠家普賽斯儀表，一八一四零六六三四七六

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